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cpk计算公式,cpk计算公式及解释是什么?

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1,cpk计算公式及解释是什么?

cpk计算公式:CPK=Cp*(1-|Ca|)。 CPK是“Combined Public Key”的缩写,中文名为组合公钥,是一种加密算法,以很小的资源,生成大规模密钥。 分类:标识密钥、分割钥匙、组合钥匙。是制程水平的量化反映。制程能力指数:是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。 Ca(Capability of Accuracy):制程准确度;在衡量实际平均值与规格中心值之一致性。对於单边规格,因不存在规格中心,因此不存在Ca;对於双边规格,Ca=(ˉx-U)/(T/2)。 Cp(Capability of Precision):制程精密度;在衡量规格公差宽度与制程变异宽度之比例。 过程能力指数 过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求(规格范围等)的程度。也称工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。 它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。

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2,CP和CPK怎么计算,区别在哪里

只有先得出CA,CP才可以算出CPK,计算公式:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|)。 依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) , 计算出制程准确度:Ca值 依据公式:Cp =T/6 , 计算出制程精密度:Cp值 依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) , 计算出制程能力指数:Cpk值 CP和CPK的区别: CP: 不考虑偏移(均值是规格中心值)时的短期过程能力指数, Cp反映的是能够达到的过程能力的最高水平, 除非进行剔除普通原因的系统措施. CPK: 考虑偏移(均值不是规格中心值)时的短期过程能力指数, Cpk反映实际的过程能力, 提高的途径是减少偏移, 往往是采取一些剔除特殊原因的局部措施即可提高Cpk值. 扩展资料: 我们常常提到的过程能力指数Cp、Cpk是指过程的短期能力。Cp是指过程满足技术要求的能力,常用客户满意的偏差范围除以六倍的西格玛的结果来表示。T=允许最大值(Tu)-允许最小值(Tl)Cp=T/(6*σ) 所以σ越小,其Cp值越大,则过程技术能力越好。Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移(ε)的大小,常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个,再除以三倍的西格玛的结果来表示。 Cpk=MIN(Tu-μ,μ-Tl)/(3*σ)或者Cpk=(1-k)*Cp,其中k=ε/(T/2)通常状况下,质量特性值分布的总体标准差(σ)是未知的,所以应采用样本标准差(s)来代替。 1. 当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。 2. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。 3. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。 4. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2; 参考资料:百度百科——CPK

3,cpk计算公式是什么?

CPK的计算公式是CPK=Cp*(1-|Ca|)。 CPK是“Combined Public Key”的缩写,中文名为组合公钥,是一种加密算法,以很小的资源,生成大规模密钥。 特性 ECC特性 存储量与密钥规模 ECC遵从IEEE标准。 组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵,分割密钥序列(Separating-keysequence )由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成,密钥对用(ssk, SPK)标记。 标识密钥(Identity-key)由标识产生,用(isk,IPK)标记。 组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成,用(csk,CPK)标记。 复合特性 在椭圆曲线密码ECC中,任意多对公、私钥,其私钥之和与公钥之和构成新的公、私钥对。 如果,私钥之和为:( r1 + r2 + … + rm ) mod n = r 则对应公钥之和为: R1 + R2 + … + Rm= R (点加) 那么,r和R刚好形成新的公、私钥对。 因为,R = R1 + R2 + … + Rm =r1G + r2G +…+ rmG = (r1 +r2 +…+ rm) G = r G 分类:标识密钥、分割钥匙、组合钥匙 意义:制程水平的量化反映。制程能力指数:是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。 计算公式 CPK=Cp*(1-|Ca|) Ca (Capability of Accuracy):制程准确度;在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格,因不存在规格中心,因此不存在Ca;对於双边规格,Ca=(ˉx-U)/(T/2)。 Cp (Capability of Precision):制程精密度;在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格,只有上限和中心值,Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值,Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ;对於双边规格:Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ 参考资料 百度百科—CPK:https://baike.baidu.com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

4,Cpk——过程能力指数是怎么计算的?1.33和1.67等等从何而来.?

计算公式:Cpk=MIN(Tu-μ,μ-Tl)/(3*σ)。1.33和1.67等是根据计算结果而来的。 min即取小的那个值,TU、TL分别为上、下公差界限;σ为过程统计量的总体标准差;μ为过程统计量的分布均值。 指数意义: 1、Cpk范围1.67-2过大,可适当放宽检验。 2、Cpk范围1.33-1.67充分,继续保持。 3、Cpk范围1-1.33正常,但接近1危险。 4、Cpk范围小于1,需改进,严重时停产需整顿。 扩展资料 计算Cpk的注意事项: 1、分析时,应注意对数据的正确分层,否则可能会发生误判。 2、对公差界限进行分析时,需要观察是否有异常点或者离群点出现。 3、当数据较多时,可能会重复数据出现,对重复数据要进行区分,并加以分析。 4、一般情况下,至少应取25组以上的数据进行分析。 5、通常情况下,横坐标用来表示原因或者自变量,纵坐标用来表示效果或者因变量。 参考资料来源:百度百科=cpk

5,电容容抗的计算方法举例说明

实验证明,容抗和电容成反比,和频率也成反比。如果容抗用Xc表示,电容用C表示,频率用f表示,那么正弦交流电下的容抗 Xc=1/(2πfC) Xc = 1/(ωC)= 1/(2πfC) Xc--------电容容抗值;欧姆 ω---------角频率(角速度) π---------圆周率,约等于3.14 f---------频率,我国国家电网对工频是50Hz C---------电容值 法拉 知道了交流电的频率f和电容C,就可以用上式把容抗计算出来。 举例:已知C1为0.33μF,交流输入为220V/50Hz,求电路能供给负载的最大电流。 C1在电路中的容抗Xc为: Xc=1 /(2 πf C)= 1/(2*3.14*50*0.33*10-6)= 9.65K 流过电容器C1的充电电流(Ic)为: Ic = U / Xc = 220 / 9.65 = 22mA。 通常降压电容C1的容量C与负载电流Io的关系可近似认为:C=14.5 I,其中C的容量单位是μF,Io的单位是A。 电容降压式电源是一种非隔离电源,在应用上要特别注意隔离,防止触电。 扩展资料 根据电容公式,电容量的大小除了与电容的尺寸有关,与电介质的介电常数(Permittivity)有关。电介质的性能影响着电容的性能,不同的介质适用于不同的制造工艺。 电容器在电子电路中几乎是不可缺少的储能元件,它具有隔断直流、连通交流、阻止低频的特性。广泛应用在耦合、隔直、旁路、滤波、调谐、能量转换和自动控制等电路中。熟悉电容器在不同电路中的名称意义,有助于读懂电子电路图。 参考资料来源:百度百科-容抗

6,CPK与PPK的标准差差异在哪里?求举例说明,谢谢。

另外针对Kevin的问题,我的想法是1. SPC是做Cpk的必要条件还是充分条件?也就是说,没有SPC的过程控制得来的数据是否可以作为计算Cpk的原始数据(不影响准确度)?=>这个问题怪怪的,Cpk是搜集数据后统计的结果,换句话说Cpk是SPC过程的一项产出,他们是一体的,应该没法用必要或充分条件关系来阐述;过程能力不会因为是否经过SPC管制而变化,除非有Action,我倒觉得你要确认的是过程是否处在受控(稳定)状态,来判定所计算出的Cpk是否可作为预测未来制程能力的参考。2. 计算Cpk的最小样本数据量在实际运用中到底能min.到什么程度?20组X4,还是单单30个数据也是可以的(Cpk的计算方法改良,变易了吗)?=>这有关你们的抽样计画设计,与成本、样本特性及可投入的资源有关,用20组X4或是单单30个数据,我想差异在预测准确度的风险,如果数据只能取单值,那用移动平均也可以,不是吗?3. 实际运用中有多少企业是同我们的做法相同或类似的(只用30个左右的数据就给整出Cpk来了)? =>我不能说大部分的企业,不过的确有许多企业是依样画葫芦,并没有认真检讨抽样计画这件事,甚至连Cpk所代表的意涵都没认真想过,只是出一份有Cpk值这一类专有名词的品质报告罢了!用30个数据整出Cpk不见得是错,但仔细关心管制图趋势及直方图分布形状来判断过程能力的管制状态是很重要的!